ELEMENT GD Plus – масс-спектрометр

ELEMENT GD Plus – масс-спектрометр
Узнать цену
Получить КП

ОПИСАНИЕ

Описание

ELEMENT GD Plus – масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией в источнике тлеющего разряда для прямого анализа проводящего твердого материала и полупроводников с минимальными затратами времени на пробоподготовку.

Этот прибор позволяет одновременно количественно измерять элементы матрицы и примеси на сверхследовом уровне, обладая линейным динамическим диапазоном свыше 12 порядков.


Технические характеристики

Аналитические характеристики

  Диапазон масс   от 2 до 260 а.е.м
  Разрешение   300, 4000 и 10000 (на 10%)
  Чувствительность   > 1 х 1010 имп/с (1,6 х 10-9 А), по высоте пиков 63Cu & 65Cu в режиме MR (R= 4000)
  Темновой шум   < 0,5 имп/с
  Стабильность масс   25 ppm/8 часов
  Скорость сканирования   Магнит: < 150 мс в скане
  m/z 7–238–7
  ESA: 1 мс/скан, независимо от массы
  Динамический диапазон   линейный > 1012 с автоматической кросс-калибровкой
  Время переключения разрешения   менее 1 с
  Изотопическая чувствительность   < 10 ppb ( по критерию m-1/m для меди в режиме MR)
  Минимальное время интегрирования   — ионный счет – 0,1 мс
  — аналоговый счет и детектор Фарадея – 1 мс
  Источник тлеющего разряда   Рабочее напряжение: до 1400 В (типично 400–1200 В)
  Ток: регулируемый до 200 мА (типично 40–50 мА)
  Импульсный режим разряда:
  напряжение — 1000 В; частота -4 кГц; длительность импульса 40 мкс; ток 5–10 мА
  Поток газа в разряде   типично 300–500 мл/мин

Функциональные характеристики

  • Пельтье-охлаждаемая поверхность катода источника GD, позволяющая поддерживать стабильный разряд и, как следствие, получать аналитические результаты с высокой точностью и воспроизводимостью
  • Новейшее программное обеспечение для полного компьютерного контроля параметров всех систем и управления работой прибора, проведения анализов, сохранения и обработки полученных результатов
  • Детектор с линейным динамическим диапазоном 12 порядков с автоматической функцией калибровки различных режимов измерений для одновременного измерения как матричных (%), так и следовых (на уровне долей ppb) элементов
  • Ионная оптика обратной геометрии Нира-Джонсона с двойной фокусировкой
  • Термостабилизированный магнит с быстрой разверткой
  • Быстросъемная конструкция линзы экстрактора (plug-in), позволяющая за минимальное время выполнять смену линзы для анализа образцов с различными матрицами
  • Быстросъемная самоюстирующаяся конструкция скиммер-конуса на магнитном держателе
  • Простая и быстрая смена образцов, позволяющая менее чем за пять минут получать результаты анализа до 50-ти элементов на уровне ppb
  • Профилирование по глубине образца: возможность получения результатов анализа профиля образца по глубине с разрешением единиц нанометра
  • Автоматическое согласование параметров разряда полностью контролирующее равномерность отбора пробы

Сферы применения

  • Авиация и космонавтика (алюминий, нержавеющая сталь, сплавы титана)
  • Медицина и фармакология
  • Пищевая промышленность (нержавеющая сталь, сплавы титана)
  • Ядерная промышленность (уран, ядерное топливо)
  • Цветная и черная металлургия
  • Чистые и сверхчистые материалы (разработка и производство)
  • Микроэлектроника (медь, алюминий)
  • Кремниевые элементы для солнечных батарей

Преимущества нашей компании

  • Более 20 000 товаров в нашем каталоге
  • 6 лет на рынке оборудования и аксессуаров для лабораторий и промышленных предприятий
  • Более 1000 реализованных проектов по России и СНГ
  • Собственное сервисное обслуживание
  • Быстрая доставка по России, СНГ и всему миру
  • Бесплатное обучение использования приборов

ХАРАКТЕРИСТИКИ

Документация
Вы недавно смотрели