Рентгенофлуоресцентный аналитический микрозонд ЭКРОС XRF-9720

Прибор предназначен для исследования объектов методами оптической микроскопии, рентгенографии и локального рентгенофлуоресцентного элементного микроанализа с возможностью элементного микрокартирования от ¹¹Na до ⁹²U.

Особенности:

микрофокусная рентгеновская трубка

поликапиллярная линза для формирования рентгеновского зонда с изменяемым размером

набор фильтров первичного излучения

обзорная видеокамера для выбора области анализа

оптический цифровой микроскоп для исследования области анализа

оптический микроскоп, совмещенный с осью рентгеновского зонда

автоматизированная система выбора рабочего расстояния

автоматизированный двухкоординатный предметный стол для позиционирования объекта и сканирования по заданной области образца (X, Y)

перемещение аналитического узла по Z – координате

детектор прошедшего через образец излучения для рентгенографических исследований

энергодисперсионный полупроводниковый детектор для локального элементного анализа

вакуумируемая измерительная камера для анализа легких элементов

встроенная автономная система водяного охлаждения рентгеновской трубки

специализированное программное обеспечение для рентгенографических исследований, локального элементного анализа и элементного картирования

---

Технические характеристики

Максимальное напряжение рентгеновской трубки, кВ	‎  50
‎  Максимальная мощность рентгеновской трубки, Вт	‎  500
‎  Диаметр рентгеновского зонда, мкм	‎  30-1000
‎  Точность позиционирования рентгеновского зонда, мкм	‎  10
‎  Энергетическое разрешение детектора на линии Mn Kα, эВ	‎  <150
‎  Максимальный размер сканируемой области, мм	‎  150x150
‎  Максимальный размер исследуемого объекта, мм	‎  300х210х100
‎  Максимальный вес исследуемого объекта, кг	‎  1
‎  Габаритные размеры аналитического блока (ДxШxВ)	665х615х650
‎  Вес аналитического блока, кг (без системы охлаждения)	‎  75

Основные аналитические и метрологические параметры

‎‎  Диапазон определяемых элементов	‎  11Na (Kα) – 92U (Lα)
‎  Спектральный диапазон, кэВ	‎  1 - 40
‎  Максимальная скорость счета, ‎имп./с	‎  1000000
‎  Верхний предел диапазона измерения массовой доли определяемых элементов	‎  100%
‎  Нижний предел диапазона измерения массовой доли определяемых элементов	‎  Зависит от матрицы и лежит ‎в диапазоне от 0,03 до 0,0001 %
‎  Собственная аппаратурная погрешность	‎  не более 1,0 %

---

Сферы применения

• Криминалистика
• ID документы
• Металлургия
• Материаловедение
• Микроэлектроника
• Экспертиза предметов искусства и старины

---

Преимущества нашей компании

• Более 20 000 товаров в нашем каталоге
• 6 лет на рынке оборудования и аксессуаров для лабораторий и промышленных предприятий
• Более 1000 реализованных проектов по России и СНГ
• Собственное сервисное обслуживание
• Быстрая доставка по России, СНГ и всему миру
• Бесплатное обучение использования приборов